主题：晶控

该测控产品采用石英晶体传感器的微量天平原理测量镀膜的速率和厚度，适用于溅射、电阻蒸发、离子束、电子束等镀膜应用场合。

在光学、半导体、装饰镀等行业大量应用，也可用于科学研究。

本公司引进国外先进技术并结合国内用户的实际需求，推出全中文人机界面的TDM系列膜层监控仪和TDC系列膜层控制仪。

  TDM系列膜层监控仪特点：频率显示精度0.1赫兹;    速率显示精度  0.1埃/秒;     可监测4个源；内置256 材料

  TDC系列膜层控制仪特点：实时功率和速率曲线 ；双路源控制电压输出；16个独立输入/输出端口；RS-232通讯接口

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公司宗旨：为您提供高性能低成本的在线薄膜控制方案。

服务承诺：保修两年，终身维修，维修只收成本费。

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